激光在集成电路系统级封装中能做什么
激光在集成电路系统级封装中能做什么?
01 什么是系统级封装(SiP)?
1) 传统的三级封装模式
电子产品,比如台式电脑,第一级封装是将单颗晶圆晶片封装成单颗独立的集成电路,如CPU、存储器等;第二级封装用这些集成电路插装在印刷电路板上,形成特定功能的板卡,比如内存条、显示驱动卡等;第三级封装是将这些单一功能的板卡插装在主板上,再加上外壳,构成完整功能的系统。
图1:电子产品的三级封装
2) 系统级封装 (SiP)
随着封测技术的发展,一个封装体内可以容纳多颗裸晶片,从而使一颗集成电路即可构成完整的系统。这种封装方式就称为系统级封装。
图2:苹果手表S1芯片,内部集成了来自不同供应商的晶片,构成包括CPU、存储器、显示驱动器全部基本电脑功能,还囊括Wi-Fi、蓝牙、NFC、FM等通讯功能。(资料来源:《电子产品世界》2015年9月22日新闻)。
系统级封装具有如下优点:
- 封装密度高,内部寄生电容、寄生电感低,适合高主频运行;
- 低功耗,使移动终端设备具备更长的待机时间;
- 新产品开发时,可选用现有大批量供货的各种功能性标准晶片,灵活集成新产品,缩短开发周期,降低产品开发成本和批量供货成本。
02 激光在SiP中的应用
1) CPS 电磁屏蔽
如图2所示,SiP模块中集成了Wi-Fi、蓝牙、NFC等射频电路,这些RF器件对周边的CPU、存储器、显示驱动等被动元件造成干扰,必须予以屏蔽。传统的做法是将这些RF器件单独封装,用金属盖子做屏蔽,或用真空溅镀屏蔽,或银浆喷涂屏蔽。
图3:金属盖屏蔽,增加了封装体积
图4:真空溅镀整体屏蔽,封装体内部无法同时植入被动元件和RF器件
为了将RF器件和被动元件同时封装到同一个SiP模组中,须将两类器件分区布置,然后在想办法设置隔离金属墙。目前效果最好的制程是封装后沿预设隔离线对封装体开沟槽,在沟槽中灌注银浆,最后做银奖喷涂或真空溅镀金属屏蔽层,如图5。
图5:隔仓屏蔽(Compartment Shielding)工艺
开沟槽的较佳手段是激光,其优点是沟槽窄(窄至100um) 节省面积,位置精度高(10um) ,深度可控制到基板上预设的屏新线表面。
图6:高通5G基带芯片采用局部隔仓屏蔽,将被动元件保护起来
图7展示SCM-300型激光开槽机在生产中所开沟槽的实测几何构型。
图7: SCM-300所开沟槽的三维测绘,符合芯片设计要求
视频短片:SCM-300型激光开槽机生产高通5G基带芯片,开槽位置精度≤10μm,沟槽尺寸精度≤±3μm。
2) 立体封装中的激光钻孔
为进一步提高封装密度而采用立体封装,方法有双面封装(2.5D)和单面堆叠封装(POP)。
下图展示多层堆叠封装的工艺制程,激光钻孔用于层间信号连接。
图8: POP立体封装制程
双面封装中,芯片基板上预留的I/O触点位置被塑封体覆盖了,因而无法用传统方法制作I/O触点。激光钻孔工艺用来打开I/O悍盘上方的封装体,再置入锡球,锡球融化后形成略高于封装体表面的I/O触点阵列。下图示意双面封装中I/O触点制作的工艺流程。
图9:双面封装SiP模组的I/O触点制作流程
Dialog公司为移动终端设备设计的一款电源管理露采用了双面封装技术,触点尺寸235微米,触点pitch 300微米,300多个点,要求孔的位置精度<±10μm;触点共面性要求钻孔的尺寸精度<±3μm。
图10:SCM-322型TMV钻孔机孔型尺寸精度测量
图11:SCM-322型TMV钻孔机钻孔位号精度,10.9环!
视频短片:SCM-322型TMV激光钻孔设备生产双面封装电源管理器模组
3) 板级封装芯片的激光分切
SiP芯片多用于移动终端设备,由于紧凑性要求,它的外形通常需要契合产品的外壳形状,因而不是规则的矩形,比如指纹辨识片、miniSD卡、SIM卡等,无法用轮刀进行分切。而激光刻切割出任何你需要的形状。
视频短片:SCM-320型激光分切机,多料夹自动上料,同轴视觉定位,分切后AOI视觉检测,不良品自动分拣,JEDEC料盘自动收料,满料料盘自动码垛。
4) 光局部分切
激光分切成本高效率低,而有些产品的边缘大部分是直线,只有局部是异形或曲线,可以先用激光切异形和曲线分,再用轮刀切直线部分,以提高效率峰低成本。
图12: 用激光和轮刀分别切割miniSD卡
视频短片:LCM系列基板激光微加工系统切割miniSD卡,多料夹自动上下料,多激光站并行生产,同轴视觉定位,定位精度±20um,AOI视觉检测,不良品自动分拣。